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[发明专利]颗粒压碎强度值的测量装置和测量方法-CN202310564635.3在审
发明人：郑卫新;文静;常成功;董金美;肖学英 -专利权人：中国科学院青海盐湖研究所
申请日： 2023-05-16 - 公布日： 2023-08-08 - 主分类号： G01N3/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种颗粒压碎强度值的测量装置和测量方法。该测量方法包括：将待测颗粒物料筛分为不同粒径等级的若干物料组，并获得每个物料组在所述待测颗粒物料的占比；按照从大至小的占比排序从若干物料组筛选出至少两组物料组作为待测试样；分别测量得到每组所述待测试样的压碎强度值；将各组所述待测试样的压碎强度值的平均值作为所述待测颗粒物料的压碎强度值。该测试方法不受限于颗粒大小范围，可以较为便捷且准确地测量出物料的颗粒强度。
颗粒压碎强度测量装置测量方法

[实用新型]针状焦颗粒强度测量装置-CN201821974339.1有效
发明人：蒋利;朴日光;史文有 -专利权人：凤城市宝山炭素有限公司
申请日： 2018-11-28 - 公布日： 2019-08-02 - 主分类号： G01N15/00 文献下载
摘要：本实用新型是一种针状焦颗粒强度测量装置，包括油缸、上限位销、下限位销、钢模、导向柱、钢压头、底座、承压台、上横梁，下横梁；底座上具有承压台，承压台通过导向柱与上横梁连接；承压台上设置有钢模；上横梁上设有油缸本实用新型针状焦颗粒强度测量装置，结构合理，性能稳定，压力稳定，可以恒压状态下工作。本实用新型针状焦颗粒强度测量装置操作简单，实用有效。
颗粒强度测量下横梁针状焦本实用新型承压台导向柱上横梁油缸钢压头上限位下限位钢模底座压力稳定装置操作滑动承压恒压

[发明专利]一种微颗粒强度测量仪及测量方法-CN201911075414.X有效
发明人：张志兵;张平;李华峰 -专利权人：英国微力测量有限公司
申请日： 2019-11-06 - 公布日： 2023-03-03 - 主分类号： G01N3/08 文献下载
摘要：本发明提供了一种微颗粒强度测量仪及测量方法，涉及显微测量领域，所述微颗粒强度测量仪包括多通道视频显微模块、样品载台模块、位移运动驱动模块、微力信号采集模块以及仪器操作控制模块；本发明还提供一种微粒强度测量方法，定义样品载片的扫描范围及样品测量尺寸范围，将扫描范围分为多个场域；移动样品载片将多个场域依次移入显微视场中，进行样品颗粒识别及筛选；通过移动夹持臂或移动支架向样品施加外力并记录样品形变过程及力信号，从而得到所述样品强度的数据本发明设计的微颗粒强度测量仪及测量方法有效的提升微尺度材料的研发效率，大大的缩短了工业产品的开发过程。
一种颗粒强度测量仪测量方法

[发明专利]一种颗粒机械强度的测试装置及方法-CN201510154252.4有效
发明人：段伦博;余志健;段元强;赵长遂 -专利权人：东南大学
申请日： 2015-04-02 - 公布日： 2017-10-10 - 主分类号： G01N15/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种颗粒机械强度的测试装置及方法。装置内预先充满气体，加热喷射管内气体至一定温度，颗粒在气体曳力和自身重力作用下在喷射管中不断加速，同时在喷射管中受热温度升高且与高温气氛反应，最终与碰撞平台碰撞破碎。通过高速CCD相机测量碰撞时颗粒的速度和颗粒破碎情况，通过红外热像仪非接触测量碰撞时颗粒的温度，通过碰撞平台上的压力传感器测量碰撞时颗粒受力，通过碰撞后破碎颗粒的粒径分布表征颗粒强度特性。该专利可有效测量和分析反应器中高温气氛下颗粒因化学反应、热应力、压力、机械力(碰撞)等因素协同作用或单独作用下的强度特性。
一种颗粒机械强度测试装置方法

[发明专利]一种利用调制激光进行强背景干扰下颗粒速度测量的装置-CN202210736468.1在审
发明人：相恒升;程博;张成飞;乔文生;徐海涛 -专利权人：清华大学
申请日： 2022-06-27 - 公布日： 2022-10-11 - 主分类号： G01P3/36 文献下载
摘要：本发明提出一种利用调制激光进行强背景干扰下颗粒速度测量的装置，包括，激光光强调制系统，用于根据调制频率将激光调制成强度变化的激光；数据采集处理系统，用于采集强度变化的激光照射颗粒时，颗粒对激光的散射信号，并对散射信号进行以所述调制频率为中心的带通滤波，根据带通滤波后的散射信号得到颗粒的速度。本发明提出的适合强背景干扰下颗粒速度测量的装置，可以解决颗粒速度测量过程中强背景噪音导致颗粒速度测量失效的问题。
一种利用调制激光进行背景干扰颗粒速度测量装置

[发明专利]使用单颗粒电感耦合等离子体质谱(SP-ICP-MS)自动检测纳米颗粒-CN201911023526.0在审
发明人：板垣隆之;S·威尔伯;山中理子 -专利权人：安捷伦科技有限公司
申请日： 2019-10-25 - 公布日： 2020-05-05 - 主分类号： H01J49/00 文献下载
摘要：通过单颗粒电感耦合等离子体质谱(spICP‑MS)分析样品中诸如纳米颗粒的颗粒。在ICP‑MS系统中处理所述样品以获取对应于离子信号强度与时间的关系的时间扫描数据。从所述时间扫描数据确定信号分布，所述信号分布对应于离子信号强度和测量所述离子信号强度时的频率。将颗粒检测阈确定为所述信号分布的离子信号部分与颗粒信号部分的交点。所述颗粒信号部分对应于所述样品中颗粒的测量，并且所述离子信号部分对应于所述样品中除颗粒之外的组分的测量。所述颗粒检测阈将所述颗粒信号部分与所述离子信号部分分离并且可用于确定关于所述颗粒的数据。
使用颗粒电感耦合等离子体质 sp icp ms 自动检测纳米

[发明专利]一种凝胶颗粒强度测量装置及方法-CN202010121034.1有效
发明人：任晓娟;王杠杠;李杰;罗向荣 -专利权人：西安石油大学
申请日： 2020-02-26 - 公布日： 2022-03-11 - 主分类号： G01N3/02 文献下载
摘要：本发明公开一种凝胶颗粒强度测量装置及方法，测量装置，包括加压装置、测压装置、挤压装置和图像采集装置，挤压装置采用透明活塞式容器，透明活塞式容器包括透明容器和活塞，活塞安装与透明容器中，加压装置与透明容器的加压入口连接本发明的凝胶颗粒强度测量装置在测量时，由于采用了透明活塞式容器，因此测量时不会受凝胶颗粒大小限制。有效的避免了现有技术中工作原理受凝胶颗粒大小、筛板孔径大小的影响，无法准确测量凝胶颗粒强度的问题。
一种凝胶颗粒强度测量装置方法

[发明专利]单个纳米颗粒粒径的测量方法-CN201510529572.3有效
发明人：白本锋;肖晓飞 -专利权人：清华大学
申请日： 2015-08-26 - 公布日： 2018-01-23 - 主分类号： G01N15/02 文献下载
摘要：本发明涉及一种单个纳米颗粒粒径的测量方法，包括预估待测的纳米颗粒的种类及粒径的分布范围；制作标准纳米颗粒的样本；得到第一基板上一预定区域的每个标准纳米颗粒的粒径大小，将获得的测量数据作为基准；获取所述预定区域内标准纳米颗粒的散射光斑的暗场显微图像；获得对应于每个标准纳米颗粒的散射光斑强度；建立起标准纳米颗粒的散射光斑强度与标准纳米颗粒粒径之间的对应关系；制作待测纳米颗粒的样本；获取待测纳米颗粒的散射光斑的暗场显微图像；以及获得对应于每个待测纳米颗粒的散射光斑强度，并根据建立起的纳米颗粒的标准散射光斑强度与标准纳米颗粒粒径之间的对应关系，得到暗场显微图像中待测纳米颗粒的粒径。
单个纳米颗粒粒径测量方法

[实用新型]一种针状焦颗粒强度测量装置-CN202221591207.7有效
发明人：万水田;孙刚;杨建国 -专利权人：内蒙古华瑞炭素科技有限公司
申请日： 2022-06-23 - 公布日： 2023-01-06 - 主分类号： G01N3/08 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种针状焦颗粒强度测量装置，包括底座，所述底座顶部固定设有放置台和颗粒强度测定仪，所述放置台外侧套设有收集壳体，收集壳体表面固定连接有把手，颗粒强度测定仪的立柱表面通过电机架固定设有第一电机该针状焦颗粒强度测量装置通过第一电机驱动转板与清洁棉对放置台顶部的针状焦碎料实现自动化清理，通过收集壳体用于收集放置台顶部被清理的废料，从而通过多组排料管将废料输送到废料槽内，该针状焦颗粒强度测量装置自动化程度高
一种针状颗粒强度测量装置

[发明专利]纸浆工艺中的疏水性组分的监测和控制-CN201980082818.3在审
发明人： I·乔恩苏;M·皮罗嫩;A·伯格龙;T·布杰克特维德 -专利权人：凯米拉公司
申请日： 2019-12-20 - 公布日： 2021-08-31 - 主分类号： G01N15/06 文献下载
摘要：将含水流的样品引导至光学测量装置。加入疏水性染料。根据颗粒尺寸或质量将样品分级成级分。测量级分的荧光强度值和光散射强度值。将该级分的荧光强度值加在一起，因此获得荧光强度值之和。将该级分的光散射强度值加在一起，因此获得光散射强度值之和。通过荧光强度值之和除以光散射强度值之和来计算该样品中颗粒的疏水性密度，和基于所计算的样品中颗粒的疏水性密度监测和控制含水流中疏水性污染物的浓度。
纸浆工艺中的疏水组分监测控制

[发明专利]气体颗粒物测量方法及装置-CN201710685506.4有效
发明人：尚祥;夏海云;窦贤康;上官明佳;王冲;裘家伟 -专利权人：中国科学技术大学
申请日： 2017-08-11 - 公布日： 2019-10-22 - 主分类号： G01N15/06 文献下载
摘要：本发明实施例提供了一种气体颗粒物测量方法及装置，可以通过激光雷达对气体颗粒物进行测量，获得雷达回波信号强度；确定分子的消光系数和分子的后向散射系数；将所述雷达回波信号强度、分子的消光系数和分子的后向散射系数输入预设的离散化激光雷达方程中计算获得颗粒物浓度中间参量；将所述颗粒物浓度中间参量输入预设的多项式回归方程中，计算得到颗粒物浓度。由于本发明通过预设的离散化激光雷达方程和预设的多项式回归方程获得了颗粒物浓度，因此本发明仅需通过激光雷达即可实现颗粒物浓度的大范围高精度测量，无需使用PM测量仪，减少了测量时使用仪器的数量，节省了成本。
气体颗粒测量方法装置

[发明专利]一种铁矿石烧结的颗粒粘附层剪切强度的测量方法及装置-CN201810621082.X有效
发明人：周昊;周明熙 -专利权人：浙江大学
申请日： 2018-06-15 - 公布日： 2019-11-05 - 主分类号： G01N3/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种铁矿石烧结的颗粒粘附层剪切强度的测量方法及装置，属于冶金行业铁矿石烧结技术领域，包括用于承载模拟料的装料盒，该装料盒具有固定部和可移动的活动部；在装料盒的顶部加载有一垂直载荷，在活动部的侧面加载有一横向剪切载荷，并设有用于控制和测量横向剪切载荷的力学试验机。在以上测量装置的装料盒中填充料能有效代表铁矿石烧结的准颗粒粘附层中的物料种类、含量、粒径等组成，解决了准确评价烧结准颗粒粘附层的剪切强度的问题。通过测量装置获取的剪切强度数值能评价准颗粒在堆积过程中的变形程度，可以指导烧结配矿，使配矿过程中尽可能实现准颗粒具有较强的粘附层强度，能使烧结料床具有良好的透气性。
铁矿石烧结颗粒粘附装料盒测量方法及装置测量装置横向剪切烧结活动部配矿控制和测量力学试验机垂直载荷烧结料床冶金行业固定部可移动填充料透气性粘附层粒径堆积变形承载侧面

[实用新型]一种用于β射线法测量大气颗粒物浓度的信号处理系统-CN201520512563.9有效
发明人：王雷;赖新春;付军;陈晓琼;秦驰;王庆屹 -专利权人：中国工程物理研究院材料研究所
申请日： 2015-07-15 - 公布日： 2015-11-18 - 主分类号： G01N23/12 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种用于β射线法测量大气颗粒物浓度的信号处理系统，包括精准阀值产生模块、上阀值比较器、下阀值比较器、脉冲整形模块、计数模块，目的在于解决现有β射线吸收法测量大气颗粒物浓度的仪器受大气颗粒物天然放射性，导致测量结果不准确，尤其是在天然放射性本底较高的地区，测量结果误差较大的问题。本实用新型能够将能量高的射线排除掉，显著提高射线探测强度中有效射线强度的占比，最终达到提高大气颗粒物质量测量的准确度，降低环境天然放射性对测量结果影响的目的。本实用新型可用于空气中颗粒物（TSP、PM10、PM5、PM2.5、PM1等）浓度的β射线法测量，降低天然环境放射性影响的方法，提高测量的准确性，同时能拓展β射线吸收法测量大气颗粒物浓度的应用环境，具有较好的应用前景
一种用于射线测量大气颗粒浓度信号处理系统

[发明专利]用于校准针对基于光片的纳米颗粒跟踪和计数装置的调查体积的方法-CN201780052099.1有效
发明人：贾恩·J·塔塔科维兹 -专利权人：堀场仪器株式会社
申请日： 2017-06-28 - 公布日： 2021-08-06 - 主分类号： G01J3/42 文献下载
摘要：该方法包括：制备多个颗粒样本，每个颗粒样本具有已知的浓度和颗粒大小，该多个颗粒样本具有一种以上颗粒大小并且可选地具有一个以上折射率和一种以上稀释液。针对多个颗粒样本中的每个样本，在设置中测量该样本并且测量散射光强度和颗粒数目。根据该数据，可以确定散射光强度、颗粒大小、和校准调查体积之间的关系。使用校准调查体积来获取给定稀释液中的适当颗粒大小分布。
用于校准针对基于纳米颗粒跟踪计数装置调查体积方法

[发明专利]一种基于超声脉动原理测量颗粒粒径和浓度的方法-CN201410238152.5在审
发明人：苏明旭;李永明;蔡小舒;袁安利 -专利权人：上海理工大学
申请日： 2014-05-30 - 公布日： 2014-08-13 - 主分类号： G01N15/02 文献下载
摘要：本发明涉及一种基于超声脉动原理测量颗粒粒径和浓度的方法，入射超声波由于受到颗粒介质的散射和吸收，透射声波强度会衰减，采用聚焦超声波并且将测量区布置在超声波聚焦声束段，当颗粒粒径与超声波聚焦声束直径之比控制在0.1-20范围内，通过其中的颗粒的数目和粒径随时间变化，透射声强也会随时间起伏变化，产生声脉动效果，这种超声信号的随机脉动与在测量瞬间处于超声波聚焦声束测量区中的颗粒粒径和数目有关，测出透射超声波强度的随机变化序列并进行统计分析，就可以应用超声脉动理论求得颗粒的平均粒径和浓度。此方法可实现在线测量，可用于实验室科学研究，特别适用于工业现场的应用。
一种基于超声脉动原理测量颗粒粒径浓度方法

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